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資質(zhì)榮譽
專利證書：利用散射光的偏振差異測量顆粒折射率的方法及系統(tǒng)201911071791.6
真理光學通過ISO9001:2015質(zhì)量管理體系認證
專利證書：顆粒折射率測量方法、計算機裝置及計算機可讀存儲介質(zhì)201810552388.4
專利證書：一種帶液體鞘流測量池的激光粒度分析儀201921219223.1
專利證書：超低下限的在線激光粒度儀202121718637.6
專利證書：測量顆粒材料中超大顆粒含量的裝置202122186274.2
專利證書:光纖偏振濾波技術ZL201720189750.7
美國發(fā)明專利證書-US 12111240 B2-一種利用散射光的偏振差異測量顆粒折射率的方法及系統(tǒng)
LT系列激光粒度分析儀通過FCC認證
專利證書：旋轉(zhuǎn)間歇式在線粉體取樣技術ZL202121928564.3
真理光學產(chǎn)品獲得美國FDA認證
LT系列激光粒度分析儀通過CE認證
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