由固體顆粒堆積而成的集合體叫做粉體。固體顆粒即是組成粉體的基本單元。從而測量粉體粒徑分布(或者說粉體粒度)的儀器簡稱粉體粒度儀。
真理光學技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用開發(fā)的經驗,曾研發(fā)出中國第一臺商用激光粒度分析儀。測量粉體粒度分布的粉體粒度儀是真理光學基于多年的科研成果并融合多項專利技術開發(fā)的新一代粉體粒度儀:
(1)發(fā)現愛里斑的反常變化(ACAD)規(guī)律及其對粒度測量的影響,解決了ACAD現象對光能數據反演的干擾。
(2)獨創(chuàng)的偏振空間濾波技術
(3)斜置梯形窗口技術。
(4)統(tǒng)一的散射光能反演算法,免除了用戶必須選擇反演模式,而不同模式有不同結果的困擾。
(5)分散系統(tǒng)雙電機驅動及液位連續(xù)監(jiān)控。